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GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗

作者:林頻儀器發(fā)布時間:2023-02-06 14:44

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗

方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

1 范圍

GB/T 2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性。

本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級,如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。

本部分適用于小型設(shè)備及元件,同時也適用于與試驗箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備,這種聯(lián)接需要一定的裝配時間,在安裝期間,可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。

2 規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。

GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分:總則(idt IEC 60068—1:1988)GB/T 2423.2-2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫試驗(idt IEC 60068-2-2;1974)

3 概述

在本試驗中,將樣品置于同為試驗室溫度的試驗箱內(nèi)。

試驗箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴酷等級,并持續(xù)到規(guī)定的時間。

由于散熱樣品的影響,可能引起試驗箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗條件不同,則這兩個參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進行測量(參見GB/T 2421—1999中的4.4及4.6.2)。

4 試驗箱

試驗箱及其測量系統(tǒng)應(yīng)滿足如下要求:

a)工作空間內(nèi)應(yīng)裝有監(jiān)測溫、濕度條件的傳感器。對于散熱樣品的穩(wěn)態(tài)濕熱試驗,傳感器在工作

空間內(nèi)的安放位置應(yīng)按GB/T 2421—1999的有關(guān)規(guī)定進行;

b)工作空間內(nèi)的溫度和相對濕度應(yīng)在考慮到放人樣品的影響時,其值仍在規(guī)定的容差范圍內(nèi)變

化。第5章所給出的溫度容差考慮了測量的絕對誤差及溫度漸變:

對于散熱樣品,樣品附近的溫度和相對濕度由于受到樣品本身的影響,與GB/T 2421—1999中所規(guī)定的位置測得的數(shù)據(jù)不同;

c)凝結(jié)水應(yīng)連續(xù)排出試驗箱外,未經(jīng)凈化的水不能重復(fù)使用:d)試驗箱內(nèi)壁和頂部的凝結(jié)水不應(yīng)滴落到試驗樣品上;

e)試驗箱內(nèi)濕度用水的電阻率應(yīng)保持不小于500Ω·mf)試驗樣品不能受來自試驗箱發(fā)熱元件的直接熱輻射;

g)有噴霧系統(tǒng)的試驗箱內(nèi),樣品應(yīng)遠離噴射口,且濕氣不可直接噴到樣品上。

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